Анализ толщины покрытий при помощи рентгенофлуоресцентного спектрометра ЭКРОС XRF-9710 PEARL

В современном мире существует множество технологий и методов нанесения покрытий на различные материалы и поверхности. Это могут быть лакокрасочные покрытия, защитные покрытия, декоративные и другие. В процессе производства и эксплуатации этих покрытий необходимо контролировать их толщину, чтобы гарантировать качество и эффективность.

Анализ толщины покрытий является важным этапом в контроле качества покрытий и их долговечности. Толщина покрытия влияет на многие параметры, такие как адгезия, прочность, износостойкость, коррозионная стойкость и другие. Если покрытие слишком тонкое, оно может не выполнять свои функции должным образом, а если слишком толстое - это может привести к перерасходу материала и увеличению стоимости.

Одним из главных применений анализа толщины покрытий является контроль качества покрытий при производстве и эксплуатации. Например, при окрашивании автомобилей важно следить за толщиной слоя краски, чтобы гарантировать его долговечность и эстетический вид.

Для измерения толщины покрытий используются различные методы. Наиболее распространенными являются магнитные толщиномеры, ультразвуковые толщиномеры, рентгенофлуоресцентные спектрометры и вихретоковые приборы. Выбор метода измерения зависит от типа покрытия, материала подложки и условий измерений.

Спектрометр рентгенофлуоресцентный компактный ЭКРОС XRF-9710 PEARL позволяет проводить анализ толщины покрытия.

В качестве примера приведем анализ фольгированного образца:

Спектрометр рентгенофлуоресцентный компактный

ЭКРОС XRF-9710 «PEARL»

Исследование толщины покрытия

На исследование представлены образцы фольги.

Измерения образца №1 проводились вдоль короткой стороны через 1 см в атмосфере гелия (рис. 1).

Рис. 1. Образец фольги №1 предоставленной для исследования.

Распределение интенсивностей сигналов алюминия от положения представлены на рис. 2.

СКО сигнала алюминия для 5 измерений одной и той же точки ~ 100 импульсов, что составляет ~0,02 OD.

Рис. 2. Интенсивность сигнала алюминия от положения.

В цветопеременной пленке (образец №2 - рис.3) обнаружены хром и значительное количество цинка (рис. 4, 5). Зависимости интенсивностей пиков от положения представлены на рис. 6, 7.

Рис. 3. Образец фольги №2 предоставленной для исследования.

Рис. 4. Сигналы хрома в разных точках.

Рис. 5. Сигналы цинка в разных точках.

Рис. 6. Зависимость интенсивности хрома от расстояния от края пленки.

Рис. 7. Зависимость интенсивности цинка от расстояния от края пленки.

Заказать спектрометр можно по ссылке:

Спектрометр рентгенофлуоресцентный компактный ЭКРОС XRF-9710 PEARL